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X射线透视成像

基本原理是X射线透过物体时会发生吸收和透射,吸收量和衰减量由物质的密度、原子组成决定。测量反射系数、衰减系数等数据,经过计算获得体积密度、有效原子序数等信息,再生成相应的图像。

  

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